觀(guān)察導電粒子的個(gè)數以及分布，確認導電粒子是否符合要求。這個(gè)是每個(gè)做液晶模組廠(chǎng)家的必須要求。

使用金相顯微鏡系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀(guān)察屏的導電粒子，確認導電粒子個(gè)數是否符合要求。

首先，需要觀(guān)察導電粒子必須要有配有DIC 及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀(guān)察導電粒子來(lái)說(shuō)一般選用的鏡頭是要求為不超過(guò)20倍為最好，超過(guò)后會(huì )由于景深的問(wèn)題導致觀(guān)察效果模糊，無(wú)法觀(guān)察到最好的效果。
明美MJ33DIC超高性?xún)r(jià)比的金相顯微鏡是觀(guān)察導電粒子的最佳選擇！

以下是我司MJ33DIC配套我司自主研發(fā)的高清顯微成像系統拍攝的導電粒子圖片：

紅色區域為導電粒子，在普通觀(guān)察方式底下看不到